想要掌握原子力顯微鏡測試？ 這個系列講座可以很好地幫您

為了認知微觀世界，人類學會了借助各類顯微鏡來賦能我們的“視力”。在納米尺度范疇里，如果想要看清樣品長什么樣，可以選擇掃描電子顯微鏡（SEM）繪制樣品表面形貌，也可以選擇透射電子顯微鏡（TEM）“透視”樣品內部特征，但遺憾的是用電子顯微鏡所“看到”的這些都是平面化的信息。而使用AFM測試，則既能滿足我們對微觀立體結構的期待，又能在納米尺度觀測電學和磁學特征。

一般而言，越是高端的儀器，其對測試樣品及測試條件的要求就越苛刻，如電子顯微鏡——對樣品百般挑剔，對測試環境要求真空低溫。但AFM似乎是個異類，無需特殊制樣過程，能夠在大氣環境下對一般樣品進行無損測試，卻可以實現原子級的高分辨率。從這點來看，AFM測試，是一種非常友好的測試方法。

讀文獻時，我們可以跟隨作者的思路去分析AFM數據，但是做研究時，我們既需要了解應該以及如何獲取哪些數據，更需要考慮能否實現數據獲取以及數據可信度。因此在AFM測試前，對AFM有一個全面的了解就可以讓我們從被動獲取數據向主動探索數據轉變。

為了增進大家對AFM的了解，材料人特邀請材料人科技顧問、西安交大博士研究生趙金燕老師為大家帶來AFM專題培訓。

嘉賓簡介

趙金燕，西安交通大學電子科學與技術專業博士，曾到德國波茲坦大學和加拿大西蒙菲莎大學交流訪問。2012年被認證為Bruker掃描探針顯微鏡專家，具有多年相關儀器測試和管理經驗。

精通以原子力顯微鏡（AFM）為基礎的測試功能模塊，包括：壓電力顯微鏡（PFM）、磁力顯微鏡（MFM）、表面電勢（Potential）、導電力顯微鏡（c-AFM）等。測試樣品包括陶瓷、單晶、薄膜、納米線、量子點等。

課程描述：

本課程講授AFM技術及其功能模塊的測試、分析及應用，重點是PFM的原理、應用、測試技巧和數據分析。該系列課程共分為三講。

第一講：原子力顯微鏡基本概述

第二講：壓電力顯微鏡入門培訓

第三講：壓電力顯微鏡專業培訓

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