顯微分析進階技能——STEM掃描透射電鏡技術講座即將開講

電子顯微技術在材料表面分析領域有著重要應用，我們一般常用的顯微分析手段有透射電子顯微鏡(TEM)，掃描電子顯微鏡(SEM)，原子力顯微鏡（AFM）、電子背散射衍射（EBSD）等等（想要了解更多以上分析技術，可以下載材料人APP學習相關課程）。

現在，材料人即將推出STEM技術線上課程，著眼于“STEM可以幫助我獲得什么信息”以及“如何得到我想要的信息”，為大家講解STEM的基本知識和技能。

課程內容

第一講 STEM基礎知識

i.什么是STEM？有什么優缺點？

ii.STEM構造（用戶需要知道的關鍵部分）及名詞解釋

iii.為什么用電子？什么決定了分辨率？

iv.STEM和TEM有什么區別？如何選擇？

v.什么是“球差電鏡”？

vi.透鏡需要什么樣品？如何制備？

第二講 什么是高角環形暗場像HAADF和Z襯度？

i.傳統非補正模式

ii.球差補正器給HAADF-STEM帶來的飛躍

第三講 其他成像模式之LAADF、ABF和BF

第四講 STEM高分辨像的模擬

第五講 分析實例

i.HAADF-STEM在有序合金中的應用

1)塊體材料篇

2)納米材料篇

ii.用ABF看輕元素

上課時間

第一講 2019年8月15日 已播出

第二講 2019年8月23日10：00

后續課程每周更新兩節

講師介紹

馬老師，海外知名大學博士，現為美國某top10大學任透射電子顯微鏡儀器科學家。長期從事透射電子顯微鏡對材料的表征工作，熟悉各種透射電鏡相關技術，并有豐富的講授經驗。利用透射電子顯微鏡技術發表過多篇高水平學術論文。

聽課方法

在http://app.cailiaoren.com/ 或應用寶（各大應用商店也可）下載材料人APP，在APP內搜索“STEM”，即可進入。（IOS版APP已經上線，課程購買方式請微信咨詢客服）

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課程售價

50元

聯系方式

如有疑問請添加客服微信（微信號：qingcaikefu）。