視頻丨厲害了，我的原子力顯微鏡！

AFM，原子力顯微鏡，能夠在納米級下觀察樣品表面形貌，里面的掃描器掃描物體表面，定位檢測器記錄樣品表面高度的變化，通過反饋回路會得到準確的表面形貌圖，反過來，也會保護尖端免受損傷。

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