今日Nature：vivo NEX｜Find X 屏幕分辨率依舊，看康奈爾大學如何實現空間分辨率大突破

【引言】

小編知道這兩款都不是主打屏幕分辨率的手機，“真全面屏”的話題課后再議，我們來看看今日Nature新作。憑借著像差校正光學系統，原子分辨率的電子顯微鏡成為表征納米級結構必不可少的工具。一般情況下，通過增加透鏡的數值孔徑（α）和光束能量來改善圖像分辨率，在300千電子伏特的束能下，分辨率剛剛突破0.5 ?。二維材料在較低的光束能量下成像，可以避免大動量轉移造成的位移損壞，將空間分辨率限制在約1 ?。

【成果簡介】

北京時間2018年7月19日，Nature在線發表了康奈爾大學David A. Muller（通訊作者）團隊題為“Electron ptychography of 2D materials to deep sub-?ngstr?m resolution”的文章，通過將電子顯微鏡像素陣列檢測器與所需動態范圍相結合，記錄透射電子的完整分布，以及從全相位空間恢復相位信息，研究人員獲得了遠遠超過傳統數值的空間分辨率。在80千電子伏特的束能下，研究的ptychographic重建基本上改善了MoS₂中單原子缺陷的圖像對比度，達到了接近5α的極限，相當于阿貝衍射限制分辨率達到0.39 ?。常規成像方法僅達到0.98 ?。

【圖文導讀】

圖1：使用EMPAD進行STEM成像

圖2：扭曲雙層MoS₂的真實空間分辨率測試

圖3：Ptychographic重建

圖4：模擬研究

圖5：低電子劑量下的ptychographic技術和低角度ADF成像之間的比較

文獻鏈接：Electron ptychography of 2D materials to deep sub-?ngstr?m resolution（Nature 559, 343–349 (2018)）

本文由材料人Meadow供稿，材料人整理編輯。

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