最新Science:超快顯微技術用于探測單納米晶

鑒別物質種類和追尋其時間軌跡的有效方法。但是這一方法不僅嚴重依賴高效發射器，還容易發生光漂白作用。不僅如此，緩慢的納秒自發發射過程到目前為止也在最低激發態出現過。這些技術不足之處，如今嚴重制約了單分子探測技術的發展，是該技術進一步優化過程中亟待解決的問題。

【成果簡介】

西班牙巴塞羅那科學技術研究院（BIST）的Lukasz Piatkowski和Niek F. van Hulst（共同通訊作者）研究報道了基于直接探測受激發射的高靈敏實驗技術，可用于研究具有飛秒時間分辨率的納觀樣品的激發態動力學。在該項技術中，研究人員利用一個激光脈沖產生激發態的同時采用另一個延遲脈沖使其回到基態，并以此產生新的受激發射光子，同時記錄受激發射圖譜和光致發光現象，并由此生成相互獨立、互補的兩種圖像。實驗中為了檢驗這一技術的有效性，以單個膠體CdSe/CdS納米晶為對象，成功研究了其單電荷的激發態弛豫動力學和納米晶的動態異質性等。該研究認為，這一超快的受激發射顯微學為新型探測技術打開了新的通道。2019年12月06日，相關成果以題為“Ultrafast stimulated emission microscopy of single nanocrystals”的文章在線發表在Science上。

【圖文導讀】

圖1 超快受激發射顯微學

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圖2 受激發射成像

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圖3 具有時間分辨率的受激發射顯微學

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圖4 優化的受激發射和光致發光探測

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文獻鏈接：Ultrafast stimulated emission microscopy of single nanocrystals（Science, 2019, DOI: 10.1126/ science.aay1821）

本文由材料人學術組NanoCJ供稿。

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